鋁合金中有害重金屬分析及檢測設備介紹

檢測下限

推薦設備

能量色散 X 射線熒光分析儀“OURSTEX 160"

元素技術的晶體/高靈敏度和高精度

能量色散 X 射線熒光分析儀用 X 射線管發出的初級 X 射線照射樣品，并用半導體探測器測量產生的 X 射線熒光，因此無論樣品形狀如何，它都是非破壞性和元素定性的。樣品。? 進行定量分析。
半導體探測器采用電子冷卻硅漂移探測器（SDD），無需液氮冷卻，可結合數字計數電路（DSP）測量高分辨率和高計數率。
為了提高分析性能，準備了能夠使半導體探測器的能量分辨率和計數靈敏度大化的激發光學系統的條件。

應用示例

• 同時分析碘化銫 (CsI) 化合物中的碘 (I) 和銫 (Cs)

• 焚燒灰分析實例

• 水泥分析示例

• 在采石場現場分析泥沙、礫石和碎石的示例

• 鋁合金中的鎂測量示例（每種類型）

• 農藥污染土壤分析

• 工業廢棄物分析

• 土壤中有害重金屬元素分析

• 油中的硫分析

• 新型固體燃料RPF分析