非破壞性測(cè)量數(shù)字超音波式涂層膜厚計(jì)

非破壞性測(cè)量數(shù)字超音波式涂層膜厚計(jì)
生產(chǎn)的便攜式探頭一體型鍍層測(cè)量膜厚計(jì)SAMAC-FN型具有以下特點(diǎn)：該設(shè)備能夠自動(dòng)識(shí)別和測(cè)量有色金屬，具備背光功能以在黑暗中進(jìn)行測(cè)量。FN型功能單一，而Pro型功能更高

。此外，SAMAC-FN是一種一體式膜厚計(jì)，其探頭和主機(jī)集成在一起，便于攜帶和操作。該設(shè)備還具備通過(guò)按鍵進(jìn)行零點(diǎn)和標(biāo)準(zhǔn)校正的功能，以及附帶背光燈的大型LCD屏幕，方便讀取數(shù)值。其測(cè)量范圍為0～2.5mm，顯示分解能力在1μm:0～999μm時(shí)可切換0.1μm:0～400μm，0.5μm:400～500μm，以及0.01mm:1.00～2.50mm。測(cè)量精度在0～100μm時(shí)為±1μ 或顯示值的±2%，101μm～2.50mm時(shí)為±2%以內(nèi)。顯示方式為L(zhǎng)CD數(shù)字、顯示保持，探頭為1點(diǎn)定壓接觸式、V形切口、φ28mm。電源為單4電池（1.5V）×2、自動(dòng)關(guān)機(jī)功能，使用溫度為0～40℃（不結(jié)露），尺寸重量為63（W）×84（H）×30（D）mm、約125g，附屬品包括標(biāo)準(zhǔn)校正片、測(cè)試用零點(diǎn)校正板、收納袋子

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生產(chǎn)的便攜式探頭一體型鍍層測(cè)量膜厚計(jì)SAMAC-FN型具有以下特點(diǎn)：該設(shè)備能夠自動(dòng)識(shí)別和測(cè)量有色金屬，具備背光功能以在黑暗中進(jìn)行測(cè)量。FN型功能單一，而Pro型功能更高

。此外，SAMAC-FN是一種一體式膜厚計(jì)，其探頭和主機(jī)集成在一起，便于攜帶和操作。該設(shè)備還具備通過(guò)按鍵進(jìn)行零點(diǎn)和標(biāo)準(zhǔn)校正的功能，以及附帶背光燈的大型LCD屏幕，方便讀取數(shù)值。其測(cè)量范圍為0～2.5mm，顯示分解能力在1μm:0～999μm時(shí)可切換0.1μm:0～400μm，0.5μm:400～500μm，以及0.01mm:1.00～2.50mm。測(cè)量精度在0～100μm時(shí)為±1μ 或顯示值的±2%，101μm～2.50mm時(shí)為±2%以內(nèi)。顯示方式為L(zhǎng)CD數(shù)字、顯示保持，探頭為1點(diǎn)定壓接觸式、V形切口、φ28mm。電源為單4電池（1.5V）×2、自動(dòng)關(guān)機(jī)功能，使用溫度為0～40℃（不結(jié)露），尺寸重量為63（W）×84（H）×30（D）mm、約125g，附屬品包括標(biāo)準(zhǔn)校正片、測(cè)試用零點(diǎn)校正板、收納袋子

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生產(chǎn)的便攜式探頭一體型鍍層測(cè)量膜厚計(jì)SAMAC-FN型具有以下特點(diǎn)：該設(shè)備能夠自動(dòng)識(shí)別和測(cè)量有色金屬，具備背光功能以在黑暗中進(jìn)行測(cè)量。FN型功能單一，而Pro型功能更高

。此外，SAMAC-FN是一種一體式膜厚計(jì)，其探頭和主機(jī)集成在一起，便于攜帶和操作。該設(shè)備還具備通過(guò)按鍵進(jìn)行零點(diǎn)和標(biāo)準(zhǔn)校正的功能，以及附帶背光燈的大型LCD屏幕，方便讀取數(shù)值。其測(cè)量范圍為0～2.5mm，顯示分解能力在1μm:0～999μm時(shí)可切換0.1μm:0～400μm，0.5μm:400～500μm，以及0.01mm:1.00～2.50mm。測(cè)量精度在0～100μm時(shí)為±1μ 或顯示值的±2%，101μm～2.50mm時(shí)為±2%以內(nèi)。顯示方式為L(zhǎng)CD數(shù)字、顯示保持，探頭為1點(diǎn)定壓接觸式、V形切口、φ28mm。電源為單4電池（1.5V）×2、自動(dòng)關(guān)機(jī)功能，使用溫度為0～40℃（不結(jié)露），尺寸重量為63（W）×84（H）×30（D）mm、約125g，附屬品包括標(biāo)準(zhǔn)校正片、測(cè)試用零點(diǎn)校正板、收納袋子

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